![]() |
![]() |
![]() |
|
![]() |
|
![]() |
|
![]() |
|
![]() |
Відлікові мікроскопи застосовуються для вимірювання відбитка (лунки), яка утворюється на поверхні металів при визначенні твердості за методом Брінелля, так само для контролю великогабаритних деталей.
| Тип | Збільшення, крат | Ціна, грн | |||||
| Фокусна відстань, мм | Ціна поділу, мм | Підсвічування | Спільне | Об'єктив | Окуляр | ||
| МОО-100 | 30 | 0,01 | + | 100х | 10х | 10х | 2100 |
| МОМ-20 | 30 | 0,01 | - | 20х | 2х | 10х | 3150 |
| МОМ-40 | 30 | 0,01 | - | 40х | 4х | 10х | 3300 |
| МТІ-40-60 | - | 0,02 | опція | 40-60х | 4-6х | 10х | Замовлення |
| МОО-50 | 30 | 0,01 | + | 50х | 5х | 10х | 1890 |
*Ціни вказані без урахування ПДВ 20%









